FIABILITATE I DIAGNOZ

UNIVERSITATEA TEFAN CEL MARE SUCEAVA

PROIECTFIABILITATE I DIAGNOZ

Student:ndrumtor:Senocico Stelianas. dr. ing. Buzduga CorneliuGrupa: 3241

Pentru circuitul electric din figura 1 se cere:a) Functia indeplinita (schema; formele de unda Vo si Vi)

Fig 1

b) media timpului de buna functionare cunoscand rata de defectare ().

Calculati MTBF cu componentele electronice din schema.

= 0,245(RCG) + 0,225(RPM) * 2 +0.048 (AO) + 14 * * 0,013 (lem) = 0.245 + 0.45 + 0.125 + 0.048 + 0,182 = 1,05 *

= => MTBF = ==ore = 952 380,95 ore

c) construiti schema echivalenta de fiabilitate a circuitului electric din figura 1.

unde: NPN = transistor NPN , = rezise cu pelicul metalic = rezistene cu pelicul de carbon;

d) estimati cu ajutorul metodei demeritelor calitatea unui lot de 80 circuite electrice identice la care se constata un numar de defecte astfel:

unde numarul de ordine n = 7 = 2 + 0,2*n = 3,4 = 3 + 0,5*n = 6,5= 1 + 0,5*n = 4,5 = 4 + 0,5*n = 7,5

Punctajele de penalizare: = 100; = 50; = 10; = 1.

D = = = = = 8,96875

e) media timpului de bun funcionare cunoscnd rata de defectare (). Calculai MTBF cu componentele electronice din schem, dar cutai un MTBF mai bun.

= 0,125(RCG) + 0,115(RPM) * 2 + 0,125(NPN-BC) +0.048 (AO) + 14 * * 0,010 (lea) = 0.125 + 0.23 + 0.125 + 0.048 + 0.14 = 0.668*

= => MTBF = ==ore = 1 497 005,99 ore

2 | Page